本测试仪由珠海凯为光电科技有限公司配套设计，测试仪采用国内高精度的直流低电阻测试仪及资深四探针头生产 厂商的四探针技术。适合实验室用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等 膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高 分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前请 咨询我们)。
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为光电科技有限公司配套设计，测试仪采用国内高精度的直流低电阻测试仪及资深四探针头生产厂商的四探针技术。适合实验室用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
目前，该产品已经被清华大学、华南理工大学、中国科学技术大学、电子科技大学、华中师范大学、武汉大学、西安交通大学、天津大学、东北大学、暨南大学等学校的相关实验室使用，产品远销澳大利亚、马来西亚、印度、伊朗、日本等国家和地区。
测试原理
1) 方块电阻的定义及方阻与电阻率、电导率的关系 >>>>>（点击查看）
2) 方块电阻的测试原理 >>>>>（点击查看）
产品特点：
1) 电阻测试仪5个不同量程供选择，不同量程不同测试电流，保证测试数据的准确性；
2) 电阻测试仪三档自动分选，适用同时快速检测多个样品的合格性能；
3) 四探针头使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确；
4) 四探针头控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μm，保证探针的小游移率；
5) 四探针头采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力；
6) 四探针头量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。
产品参数：
1) 仪器测量范围：10 μΩ – 2.00 kΩ（四种不同量程测量范围及分辨率、测试电流参见下表）
2) 分选档数：3档分选
3) 低电阻测试仪测试偏差：参见附表四测试结果(见产品操作手册)
4) 四探针头类型：直线四探针
5) 四探针头探针材质：碳化钨
6) 四探针头探针间距：1mm
7) 四探针头探针间距偏差：<2 %
8) 四探针头探针合力：4±1N
9）四探针头探针压痕直径：200-400 μm
10）四探针头探针机械游移率：<0.3 %
11）四探针头探针与导孔最大间隙：0.006mm
12）四探针头500V绝缘电阻：>1000 mΩ
13) 探针间距修正系数Fsp ：参见附表三标准样片检定探针头测试结果(见产品操作手册)
使用条件
1) 电源：220V AC，50Hz
2) 使用环境温度：20-60 ℃
3) 使用环境湿度：≤75RH
应用范围
测量参数：方块电阻、电阻率
测量样品：均匀薄膜、均匀薄片
样品大小：直径>1cm
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为光电科技有限公司配套设计，测试仪采用国内高精度的直流低电阻测试仪及资深四探针头生产厂商的四探针技术。适合实验室用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
目前，该产品已经被清华大学、华南理工大学、中国科学技术大学、电子科技大学、华中师范大学、武汉大学、西安交通大学、天津大学、东北大学、暨南大学等学校的相关实验室使用，产品远销澳大利亚、马来西亚、印度、伊朗、日本等国家和地区。
测试原理
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产品特点：
1) 电阻测试仪5个不同量程供选择，不同量程不同测试电流，保证测试数据的准确性；
2) 电阻测试仪三档自动分选，适用同时快速检测多个样品的合格性能；
3) 四探针头使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确；
4) 四探针头控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μm，保证探针的小游移率；
5) 四探针头采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力；
6) 四探针头量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。
产品参数：
1) 仪器测量范围：10 μΩ – 2.00 kΩ（四种不同量程测量范围及分辨率、测试电流参见下表）
2) 分选档数：3档分选
3) 低电阻测试仪测试偏差：参见附表四测试结果(见产品操作手册)
4) 四探针头类型：直线四探针
5) 四探针头探针材质：碳化钨
6) 四探针头探针间距：1mm
7) 四探针头探针间距偏差：<2 %
8) 四探针头探针合力：4±1N
9）四探针头探针压痕直径：200-400 μm
10）四探针头探针机械游移率：<0.3 %
11）四探针头探针与导孔最大间隙：0.006mm
12）四探针头500V绝缘电阻：>1000 mΩ
13) 探针间距修正系数Fsp ：参见附表三标准样片检定探针头测试结果(见产品操作手册)
使用条件
1) 电源：220V AC，50Hz
2) 使用环境温度：20-60 ℃
3) 使用环境湿度：≤75RH
应用范围
测量参数：方块电阻、电阻率
测量样品：均匀薄膜、均匀薄片
样品大小：直径>1cm
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为光电科技有限公司配套设计，测试仪采用国内高精度的直流低电阻测试仪及资深四探针头生产厂商的四探针技术。适合实验室用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
目前，该产品已经被清华大学、华南理工大学、中国科学技术大学、电子科技大学、华中师范大学、武汉大学、西安交通大学、天津大学、东北大学、暨南大学等学校的相关实验室使用，产品远销澳大利亚、马来西亚、印度、伊朗、日本等国家和地区。
测试原理
1) 方块电阻的定义及方阻与电阻率、电导率的关系 >>>>>（点击查看）
2) 方块电阻的测试原理 >>>>>（点击查看）
产品特点：
1) 电阻测试仪5个不同量程供选择，不同量程不同测试电流，保证测试数据的准确性；
2) 电阻测试仪三档自动分选，适用同时快速检测多个样品的合格性能；
3) 四探针头使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确；
4) 四探针头控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μm，保证探针的小游移率；
5) 四探针头采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力；
6) 四探针头量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。
产品参数：
1) 仪器测量范围：10 μΩ – 2.00 kΩ（四种不同量程测量范围及分辨率、测试电流参见下表）
2) 分选档数：3档分选
3) 低电阻测试仪测试偏差：参见附表四测试结果(见产品操作手册)
4) 四探针头类型：直线四探针
5) 四探针头探针材质：碳化钨
6) 四探针头探针间距：1mm
7) 四探针头探针间距偏差：<2 %
8) 四探针头探针合力：4±1N
9）四探针头探针压痕直径：200-400 μm
10）四探针头探针机械游移率：<0.3 %
11）四探针头探针与导孔最大间隙：0.006mm
12）四探针头500V绝缘电阻：>1000 mΩ
13) 探针间距修正系数Fsp ：参见附表三标准样片检定探针头测试结果(见产品操作手册)
使用条件
1) 电源：220V AC，50Hz
2) 使用环境温度：20-60 ℃
3) 使用环境湿度：≤75RH
应用范围
测量参数：方块电阻、电阻率
测量样品：均匀薄膜、均匀薄片
样品大小：直径>1cm
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为光电科技有限公司配套设计，测试仪采用国内高精度的直流低电阻测试仪及资深四探针头生产厂商的四探针技术。适合实验室用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
目前，该产品已经被清华大学、华南理工大学、中国科学技术大学、电子科技大学、华中师范大学、武汉大学、西安交通大学、天津大学、东北大学、暨南大学等学校的相关实验室使用，产品远销澳大利亚、马来西亚、印度、伊朗、日本等国家和地区。
测试原理
1) 方块电阻的定义及方阻与电阻率、电导率的关系 >>>>>（点击查看）
2) 方块电阻的测试原理 >>>>>（点击查看）
产品特点：
1) 电阻测试仪5个不同量程供选择，不同量程不同测试电流，保证测试数据的准确性；
2) 电阻测试仪三档自动分选，适用同时快速检测多个样品的合格性能；
3) 四探针头使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确；
4) 四探针头控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μm，保证探针的小游移率；
5) 四探针头采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力；
6) 四探针头量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。
产品参数：
1) 仪器测量范围：10 μΩ – 2.00 kΩ（四种不同量程测量范围及分辨率、测试电流参见下表）
2) 分选档数：3档分选
3) 低电阻测试仪测试偏差：参见附表四测试结果(见产品操作手册)
4) 四探针头类型：直线四探针
5) 四探针头探针材质：碳化钨
6) 四探针头探针间距：1mm
7) 四探针头探针间距偏差：<2 %
8) 四探针头探针合力：4±1N
9）四探针头探针压痕直径：200-400 μm
10）四探针头探针机械游移率：<0.3 %
11）四探针头探针与导孔最大间隙：0.006mm
12）四探针头500V绝缘电阻：>1000 mΩ
13) 探针间距修正系数Fsp ：参见附表三标准样片检定探针头测试结果(见产品操作手册)
使用条件
1) 电源：220V AC，50Hz
2) 使用环境温度：20-60 ℃
3) 使用环境湿度：≤75RH
应用范围
测量参数：方块电阻、电阻率
测量样品：均匀薄膜、均匀薄片
样品大小：直径>1cm
