本测试仪由珠海凯为配套设计，使用大探针头，增加探针和样品之间的接触面，适合实验室用于导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前可咨询我们。
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为配套设计，使用大探针头，增加探针和样品之间的接触面，适合实验室用于导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前可咨询我们。
四探针头类型：直线四探针
四探针头探针材质：磷铜
四探针头探针间距：2mm
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为配套设计，使用大探针头，增加探针和样品之间的接触面，适合实验室用于导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前可咨询我们。
四探针头类型：直线四探针
四探针头探针材质：磷铜
四探针头探针间距：2mm
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为配套设计，使用大探针头，增加探针和样品之间的接触面，适合实验室用于导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前可咨询我们。
四探针头类型：直线四探针
四探针头探针材质：磷铜
四探针头探针间距：2mm
四探针直流低电阻测试仪 （产品型号：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本测试仪由珠海凯为配套设计，使用大探针头，增加探针和样品之间的接触面，适合实验室用于导电高分子膜层、表面粗糙的硅片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、碳浆膜等材料的阻值的，订购前可咨询我们。
四探针头类型：直线四探针
四探针头探针材质：磷铜
四探针头探针间距：2mm
