本测试仪由珠海凯为仪器设备有限公司研发设计，采用珠海凯为自主研发的四探针探头，匹配国内高精度的直流低电阻测试仪，适合实验室 用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率 的测试使用
四探针直流低电阻测试仪
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本测试仪由珠海凯为仪器设备有限公司研发设计，采用珠海凯为自主研发的四探针探头，匹配国内高精度的直流低电阻测试仪，适合实验室
用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率
的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片及电池片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、
碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
探针中心距：2mm
探针头直径：0.74mm
探针探头类型：直线四探针 （探针可更换）
探针材质：镀金铜
四探针直流低电阻测试仪
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本测试仪由珠海凯为仪器设备有限公司研发设计，采用珠海凯为自主研发的四探针探头，匹配国内高精度的直流低电阻测试仪，适合实验室
用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率
的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片及电池片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、
碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
探针中心距：2mm
探针头直径：0.74mm
探针探头类型：直线四探针
探针材质：镀金铜
四探针直流低电阻测试仪
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本测试仪由珠海凯为仪器设备有限公司研发设计，采用珠海凯为自主研发的四探针探头，匹配国内高精度的直流低电阻测试仪，适合实验室
用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率
的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片及电池片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、
碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
探针中心距：2mm
探针头直径：0.74mm
探针探头类型：直线四探针 （探针可更换）
探针材质：镀金铜
四探针直流低电阻测试仪
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本测试仪由珠海凯为仪器设备有限公司研发设计，采用珠海凯为自主研发的四探针探头，匹配国内高精度的直流低电阻测试仪，适合实验室
用于ITO导电玻璃、FTO导电玻璃、AZO导电玻璃、柔性ITO导电膜、片状金属等膜层均匀的刚性导体膜层和半导体膜层的方块电阻、电阻率
的测试使用 (注：本产品使用小探针头，不适合导电高分子膜层、表面粗糙的硅片及电池片的测试，需要用来测试硅片、纳米银膜、石墨烯膜、
碳浆膜等材料的阻值的，订购前请咨询我们)。
探针中心距：2mm
探针头直径：0.74mm
探针探头类型：直线四探针
探针材质：镀金铜
